Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Third Edition, Hardback/J.R. Michael

Descriere YEO:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray - Disponibil la elefant.ro

Pe YEO găsești Scanning Electron Microscopy and X-Ray de la Springer Science+Business Media, în categoria Foreign Books.

Indiferent de nevoile tale, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Third Edition, Hardback/J.R. Michael din categoria Foreign Books îți poate aduce un echilibru perfect între calitate și preț, cu avantaje practice și moderne.

Preț: 547.99 Lei

Caracteristicile produsului Scanning Electron Microscopy and X-Ray

• Brand: Springer Science+Business Media
• Categoria: Foreign Books
• Magazin: elefant.ro
• Ultima actualizare: 25-03-2021 23:09:20

Comandă Scanning Electron Microscopy and X-Ray Online, Simplu și Rapid

Prin intermediul platformei YEO, poți comanda Scanning Electron Microscopy and X-Ray de la elefant.ro rapid și în siguranță. Bucură-te de o experiență de cumpărături online optimizată și descoperă cele mai bune oferte actualizate constant.

Descriere magazin:
An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described.