Sari direct la continut
Peste 10 milioane de produse, intr-un singur loc.
Produs

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie

Vânzător
elefant.ro elefant.ro
Pret
402.99 Lei
Categorie (vânzător)
Foreign Books
Marca
Momentum Press

Produs actualizat în urmă cu 3 ore
Descriere YEO:

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications - Disponibil la elefant.ro

Pe YEO găsești Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications de la Momentum Press, în categoria Foreign Books.

Indiferent de nevoile tale, Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie din categoria Foreign Books îți poate aduce un echilibru perfect între calitate și preț, cu avantaje practice și moderne.

Preț: 402.99 Lei

Caracteristicile produsului Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications

  • Brand: Momentum Press
  • Categoria: Foreign Books
  • Magazin: elefant.ro
  • Ultima actualizare: 08-06-2026 00:24:29

Comandă Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications Online, Simplu și Rapid

Prin intermediul platformei YEO, poți comanda Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications de la elefant.ro rapid și în siguranță. Bucură-te de o experiență de cumpărături online optimizată și descoperă cele mai bune oferte actualizate constant.


Descriere magazin:
Description This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique. About the Author Senior Researcher, North Carolina State University

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie - 0 | YEO

Produse asemănătoare

Produse marca Momentum Press