Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization, Paperback/Harland G. Tompkins

Descriere YEO:

Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to - Disponibil la elefant.ro

Pe YEO găsești Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to de la Momentum Press, în categoria Foreign Books.

Indiferent de nevoile tale, Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization, Paperback/Harland G. Tompkins din categoria Foreign Books îți poate aduce un echilibru perfect între calitate și preț, cu avantaje practice și moderne.

Preț: 516.99 Lei

Caracteristicile produsului Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to

• Brand: Momentum Press
• Categoria: Foreign Books
• Magazin: elefant.ro
• Ultima actualizare: 05-06-2021 22:09:24

Comandă Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Online, Simplu și Rapid

Prin intermediul platformei YEO, poți comanda Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to de la elefant.ro rapid și în siguranță. Bucură-te de o experiență de cumpărături online optimizată și descoperă cele mai bune oferte actualizate constant.

Descriere magazin:
Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the capabilities of this technique and introduced its use into all areas where thin films are found: semiconductor devices, flat panel and mobile displays, optical coating stacks, biological and medical coatings, protective layers, and more.